歡迎訪問(wèn)儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司網(wǎng)站！歡迎訪問(wèn)儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司網(wǎng)站！
本文介紹了用于原位納米粒度分析的遠(yuǎn)程光纖探頭技術(shù)VASCO KinTM。由法國(guó)技術(shù)公司（CORDOUAN Technologies）開(kāi)發(fā)的VASCO KinTM是一款功能的納米粒度分析儀，它利用的單模光纖技術(shù)將DLS測(cè)量導(dǎo)入到你的過(guò)程監(jiān)控。創(chuàng)新的光纖遠(yuǎn)程探頭(下文介紹其原理)使VASCO Kin能夠非常簡(jiǎn)單地結(jié)合到你現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)裝置上(如合成反應(yīng)器或小角X光散射SAXS系統(tǒng))，給用戶提供了大的測(cè)量靈活性，以監(jiān)測(cè)和改進(jìn)其工藝過(guò)程的顆粒粒度隨時(shí)間或反應(yīng)條件的變化。
地址：北京市昌平區(qū)西三旗建材城西路新龍大廈A座2010室
郵箱：cici.ding@insearch-tech.com
傳真：86-10-81706682
關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介 榮譽(yù)資質(zhì) 在線咨詢 聯(lián)系我們新聞中心
公司新聞 技術(shù)文章 資料下載 成功案例產(chǎn)品中心
圖像粒度分析儀 超聲粒度分析儀 在線納米粒度儀 Zeta電位儀 物理和化學(xué)吸附儀 孔隙率測(cè)定儀 流變儀 液體介電常數(shù)測(cè)定儀 電化學(xué)分析儀 圓二色光譜儀 粒子表面特性分析儀 國(guó)產(chǎn)納米粒度電位儀
微信客服
微信公眾號(hào)
版權(quán)所有Copyright © 2025 儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司 All Right Reserved 備案號(hào)：京ICP備16057128號(hào)-2 sitemap.xml 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
